同事要求我寫(xiě)一篇如何選擇美國(guó)達(dá)高特涂層測(cè)厚儀的文章，我思來(lái)想去，界定選擇哪種測(cè)試方法、精度、量程的這些交給系統(tǒng)，不同的應(yīng)用環(huán)境，特殊形狀，應(yīng)用的有對(duì)應(yīng)的解決方案，估計(jì)用戶也都看過(guò)了，因此，我想還是跟大家分享下，不同價(jià)位的測(cè)厚儀，便宜在哪，貴在哪，解決用戶根據(jù)系統(tǒng)解決不了的問(wèn)題。

 

　　1、基體金屬磁性質(zhì)

 

　　磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)

 

　　基體金屬電性質(zhì) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

 

　　2、基體金屬厚度

 

　　每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

 

　　3、邊緣效應(yīng)

 

　　美國(guó)達(dá)高特涂層測(cè)厚儀對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

 

　　4、 曲率

 

　　試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

 

　　5、試件的變形

 

　　測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)不出可靠的數(shù)據(jù)。

 

　　6、表面粗糙度

 

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

 

　　7、附著物質(zhì)

 

　　美國(guó)達(dá)高特涂層測(cè)厚儀對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

 

　　8、 測(cè)頭壓力

 

　　測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

 

　　9、測(cè)頭的取向

 

　　測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。美國(guó)達(dá)高特涂層測(cè)厚儀在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。